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    高分辨率透射电子显微镜TEM服务
    发布日期:2020-05-20
    浏览次数:10206

    透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜, 使用TEM可以观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构。

    高分辨率透射电子显微镜(TEM)

    规格型号:JEM-2100

    生产厂家:日本电子株式会社(JEOL)

    主要技术指标

    1.晶格分辨率:0.14nm,点分辨率:0.19nm;

    2.加速电压:80KV-200KV;

    3.放大倍数:50-1500000.

    4.元素分析范围(Elements detectable):B5-U92

    服务内容

    1.材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察;

    2.物相鉴定,包括晶胞参数的电子衍射测定;

    3.高分辨晶格和结构像观察;

    4.纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。

    主要功能

    1.质厚衬度像;

    2.选区电子衍射和微衍射;

    3.衍射衬度明场像和暗场像;

    4.高分辨像;

    5.晶体点阵类型和点阵常数测定;

    6.微小尺寸和形状的球盟会官网入口;

    7.电子能量散射谱分析等。

    应用范围

    TEM的优质性能使其成为生命科学、纳米技术、医学、物理学、生物学、制药、半导体、材料科学等相关科学领域的显微形貌、晶体结构和相组织的重要观察与分方法,可应用于如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等方面,可提供样品表面特征、形状、大小、结构、元素和复合结构等,成为探索客观物质世界微观结构奥秘的强有力的手段。

    样品要求

    非磁性的稳定样品,复型样品,金属、陶瓷和玻璃的块体、薄膜和粉末等,更多球盟会官网入口事项可与技术工程师联系:400-850-6066

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